p控制图是一种用于监控过程不合格品率的统计工具。制作时,首先收集至少20组样本数据,计算平均不合格品率p。根据公式计算控制上下限:UCL/LCL = p ± 3√[p(1-p)/n]。在图表中以p为中心线绘制控制限,随后逐批绘制样本不合格率点。若点超出控制限或呈现非随机模式,则表明过程存在特殊原因变异,需进行质量改进。该工具广泛应用于生产过程质量稳定性监控。

p控制图是一种用于监控过程不合格品率的统计工具。制作时,首先收集至少20组样本数据,计算平均不合格品率p。根据公式计算控制上下限:UCL/LCL = p ± 3√[p(1-p)/n]。在图表中以p为中心线绘制控制限,随后逐批绘制样本不合格率点。若点超出控制限或呈现非随机模式,则表明过程存在特殊原因变异,需进行质量改进。该工具广泛应用于生产过程质量稳定性监控。